作者:标准资料网 时间:2024-05-29 10:58:27   浏览:8710   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevices-Part14-4:Semiconductoraccelerometers
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.第14-4部分:半导体感应器
【标准号】:IEC60747-14-4-2011
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2011-01
【实施或试行日期】:2011-01
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速度;加速计;校准;组件;定义(术语);分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;字母符号;寿命;作标记;测量;测量技术;可靠度;半导体器件;半导体;灵敏度;符号;试验
【英文主题词】:Acceleration;Accelerometers;Calibration;Components;Definitions;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Inspection;Integratedcircuits;Lettersymbol;Life(durability);Marking;Measurement;Measuringtechniques;Reliability;Semiconductordevices;Semiconductors;Sensitivity;Symbols;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60747appliestosemiconductoraccelerometersforalltypesofproducts.Thisstandardappliesnotonlytotypicalsemiconductoraccelerometerswithbuilt-inelectriccircuits,butalsotosemiconductoraccelerometersaccompaniedbyexternalcircuits.Thisstandarddoesnot(orshouldnot)violate(orinterferewith)theagreementbetweencustomersandsuppliersintermsofanewmodelorparametersforbusiness.
【中国标准分类号】:L15
【国际标准分类号】:31_080_01;31_080_99
【页数】:202P.;A4
【正文语种】:英语